东莞市天测光学设备有限公司

VIEW BenchMark 450 光学影像测量仪

BenchMark 450 拥有中程测量范围，高，适应于复杂封装以及注塑部件。 BenchMark 安装有桥接器，分离了X,Y轴的运动，从而不会互相造成影响，此类设计可使设备在台面运动上完整性和... ...

Benchmark XLT 可靠的大行程非接触计量系统

QVI旗下VIEW Benchmark XLT 是一款稳定可靠的大行程非接触式计量系统 ...

QVI光学影像测量仪 Pinnacle 250

Pinnacle250 全自动非接触式影像测量仪是一款度、高的光学非接触式三维坐标影像测量仪，适用于工艺过程控制测量和质检检测应用。 ...

美国 VIEW影像测量仪Summit 450/625/800

Summit系统适用于测量有较高需求的大型部件，比如锡膏印刷屏模具、印刷电路板、柔性电路以及微蚀刻部件 summit系统测量范围大，高，450/625可以选择伺服马达驱动平台，也可以是线性马达驱动平台。s... ...

光学二次元影像测量仪VIEW Precis 200

的Precis 200是基于Micro-Metric的Innova晶圆量测系统开某发而来，采用了VMM 公司的设计和技术。 , 新款Precis 包含了很多可配置选项，使设备更加通用，耐用以及。 ...

全自动光学影像测量仪VIEW MicroLine 300美国

MicroLine 系列 主要用于测量半导体、MEMS 晶圆、光刻掩模板等尺寸和涂覆物(多层套刻、圆、对接误差等)量测。 MicroLine 临界尺寸测量系统设计应用于半导体和MEMS晶圆以及光掩模CD量测。Microline 系列可自动测... ...